为什么无法得到与标称静电容量相同的值?

使用LCR测量仪对高诱电率型陶瓷电容器进行测量时,有时无法得到与标称静电容量相同的值。高诱电率型陶瓷电容器的静电容量,会随着温度、电压(AC、DC)、频率及时间的变化而发生变化,因此,为了得到标称静电容量,需要按照下表1. 日本工业标准 JIS C 5101-1-1998年静电容量(4.7项)中规定的测量条件实施测量。 

表1:测量条件

虽然陶瓷电容器具有体积小、低阻抗、无极性等特点,但同时也有其缺点,即其静电容量会随着温度、电压(DC、AC)、频率以及时间的变化而发生变化。

接下来,我们以3216(1206) in mm(inch)尺寸、10µF的B特性和F特性为例,对影响静电容量测量的各种特性进行说明。

图1.温度特性 ※静电容量随着温度的变化而发生变化

图1.温度特性 ※静电容量随着温度的变化而发生变化。


图2.DC偏压特性 ※静电容量随着不同的DC偏压而发生变化

图2.DC偏压特性 ※静电容量随着不同的DC偏压而发生变化。


图3.AC电压特性 ※静电容量随着不同的AC电压而发生变化

图3.AC电压特性 ※静电容量随着不同的AC电压而发生变化。


图4.频率特性 ※静电容量随着不同的频率带而发生变化

图4.频率特性 ※静电容量随着不同的频率带而发生变化。


图5.老化特性 ※静电容量随着时间变化而发生变化

图5.老化特性 ※静电容量随着时间变化而发生变化。

如上所述,高诱电率陶瓷电容器的静电容量会随着温度、电压(DC、AC)、频率和时间的变化而发生变化。测量静电容量时,需要按照上述规定的测量条件实施测量。此外,在设计电路时,使用前需充分考虑到相应的使用环境条件下的陶瓷电容器的特性。

更详细的信息

静电容量和介质损耗角正切的测量 (PDF: 616KB)

可以通过软件来确认偏压特性、温度特性以及频率特性。(SimSurfing)
SimSurfing使用方法

SimSurfing